Plateforme Microscopies&Analyses

logo imat avec descriptifsl 300pLa Fédération « Institut des matériaux » (I-Mat)  a été reconnue par le ministère en janvier 2010 (FD 4122). Elle compte une soixantaine d’enseignants-chercheurs et une dizaine de BIATS.

La Fédération regroupe quatre laboratoires de l’université de Cergy-Pontoise (Errmece, LPPI, L2MGC, GEC). Ces laboratoires ont mis en commun l’ensemble de leur appareillage pour créer la plate-forme « Analyse et microscopie ». Parallèlement, la Fédération développe de nouveaux sujets de recherche, impliquant au moins 2 des laboratoires, sur la thématique « Matériaux ». Cette démarche pluridisciplinaire permet une approche originale conduisant à la levée de verrous scientifiques.

La plateforme d’imagerie regroupe des microscopes permettant la caractérisation d’approches transversales sur les matériaux du nanomètre au millimètre. Cette plate-forme est accessible à tous les membres de la Fédération. L’accès est également ouvert aux laboratoires publics ou privés extérieurs, aux industriels, … sous différentes formes. Pour toute information, vous pouvez visiter le site web d’I-Mat ou contacter Philippe Robion, directeur d’I-Mat et Mai Phuong Ngiem, responsable plateforme.

 

LSM710 300p Microscope inversé confocal Zeiss LSM-710

  • Détection : Version 2 PMT + barrette 32 canaux, T-PMT avec beam splitter T80/R20
  • Lasers : Diode 405 nm, Argon 458, 488 et 514 nm, DPSS 561 nm, HeNe 633 nm
  • Objectifs : x10 ON 0.3, x20 longue distance ON 0.4, x20 Plan Apo ON 0.8, x25 longue distance multiimmersion ON 0.8, x40 huile Plan Apo ON 1.3 DIC III, x63 huile Plan Apo ON 1.4
  • Platine motorisée
  • Epifluorescence (DAPI, EGFP, Rhodamine), Contraste interférentiel (x40)

Responsable : Rémy Agniel, Tél. : + 33 1 34 25 66 70, @ : remy.agniel at u-cergy.fr


Microscope électronique à Balayage ZEISS GeminiSEM300

  • MEB FEG
  • Résolution optimale 1 nm
  • mode VP (pression variable) + platine pelletier -25°C
  • Détecteurs SE, BSD, SE2 in lense, EDS, STEM
  • Couplage avec spectromètre RAMAN Witec RISE
  • Microscopie corrélative

Responsable : Annelise Cousture, Tél. : + 33 1 34 25 69 08, @ : annelise.cousture at u-cergy.fr


Microscope à Force Atomique BRUKER Icon

  • AFM : topographie en contact ou contact intermittent et détection de phase,
  • LFM : force de friction,
  • MFM : force magnétique,
  • EFM : force électrostatique,
  • C-AFM/ TUNA : Conductive mode

Autres accessoires disponibles : Cellule liquide et platine chauffante (Ambiant à 50°C)

Responsable : Sébastien Peralta, Tél. : + 33 1 34 25 70 11, @ : sebastien.peralta at u-cergy.fr