Notre équipe est dotée d’une plateforme de microscopie photonique ouvrant le champ sur les différentes techniques en imagerie cellulaire eucaryote, procaryote et sur matériaux. Elle est composée de différents microscopes proposant ainsi une large offre technique. Cette dernière est complétée par l’offre (CLSM, AFM et SEM) de la plateforme d’imagerie de l’Institut des Matériaux I-Mat dont notre laboratoire est partenaire.
Offre technique
Études dynamiques sur le vivant
- Imagerie spatio-temporelle en epifluorescence et contraste de phase
- Analyse/Caractérisation de diffusion moléculaire par la technique de FRAP
Études d’échantillons fixés
- Immunomarquage fluorescent sur cellules eucaryotes/procaryotes
- Acquisition de larges champs en mosaïque, reconstitution tridimensionnelle
- Colocalisation
- Caractérisation fibres amyloïdes via biréfringence
Caractérisation de matériaux
- Matériaux gélifiés
- Mesure de topographie
- Mesure de rugosité, porosité
- Lumière polarisée
Équipements
Videomicroscope inversé LEICA DMI6000B
- Epifluorescence HXP, filtres DAPI, GFP/FITC, Rhodamine
- Contraste de phase
- Objectifs x10, x20, x40
- Chambre incubation CO2 thermostaté
- Camera CoolSnap
- Logiciel Metamorph
Microscope droit LEICA DMLB
- Epifluorecence HBO, filtres DAPI, GFP/FITC, Rhodamine
- Contraste de phase
- Camera LEICA DFC 150
- Ojectifs x10 NPlan NA0.25 , x20 HC PL Fluotar NA0.5 , x63 immersion HCX PL APO NA1.32, x100 immersion HCX PL Fluotar NA1.3
Microscope inversé LEICA DMIL
- Epifluorecence HBO, filtres DAPI, GFP/FITC, Rhodamine
- Objectifs x10 C Plan NA0.22, x20 C Plan NA0.3, x40 C Plan NA0.5
Microscope droit polarisé ZEISS Axio Lab A1
- Lumière polarisée
- Obejctifs x10 N Achroplan NA0.25, x63 N Achroplan NA0.95
Responsable
Rémy Agniel Tél. +33 1 34 25 66 70 @ remy.agniel at u-cergy.fr
Sur la plateforme Microscopies&Analyses de l’Université de Cergy Pontoise :
Microscope inversé confocal ZEISS LSM 710
- Détection : Version 2 PMT + barrette 32 canaux, T-PMT avec beam splitter T80/R20
- Lasers : Diode 405 nm, Argon 458, 488 et 514 nm, DPSS 561 nm, HeNe 633 nm
- Objectifs : x10 ON 0.3, x20 longue distance ON 0.4, x20 Plan Apo ON 0.8, x25 longue distance multiimmersion ON 0.8, x40 huile Plan Apo ON 1.3 DIC III, x63 huile Plan Apo ON 1.4
- Platine motorisée
- Epifluorescence (DAPI, EGFP, Rhodamine)
- Contraste interférentiel (x40)
Microscope électronique à Balayage ZEISS GeminiSEM300
- MEB FEG
- Résolution optimale 1 nm
- mode VP (pression variable) + platine pelletier -25°C
- Détecteurs SE, BSD, SE2 in lense, EDS, STEM
- Couplage avec spectromètre RAMAN Witec RISE
- Microscopie corrélative
Microscope à Force Atomique BRUKER Icon
- Topographie
- Caractérisation des propriétés mécaniques
- Caractérisation des propriétés électriques (conductivité)